پروژه دستگاه اندازه گيري مختصات

بخشي از مقدمه:
امروزه ارقام حاصل از اندازه?گيري به عناوين مختلف و بيشتر از گذشته مورد استفاده قرار مي گيرد . بنابراين كيفيت ارقام حاصله از اندازه?گيري بطور مستقيم به اندازه?گيري هايي بستگي دارد كه از سيستم هاي اندازه?گيري ( ابزار دقيق ) گرفته مي شود . اندازه?گيري فرايند مقايسه?اي يك كميت بين يك استاندارد تعريف شده و يك مقدار مجهول مي باشد . در عصر شتاب در پيشرفت علمي ، استاندارد خدمات ، توليد و گسترش روشهاي توليد ، روشهاي اندازه?گيري نيز گسترش در خور توجهي نموده?اند . روش?هاي اندازه?گيري سه بعدي يكي از مهمترين روش هاي اندازه?گيري مي باشند . دستگاه هاي اندازه?گيري مختصات (CMM) براي اندازه?گيري سه بعدي قطعات و يا هر چيزي كه اندازه هاي آن با پارامترهايي مانند توازي ، تعامد ، زاويه ، ابعاد و ... در آن بايد بصورت سه بعدي اندازه?گيري شوند در صنايع مختلفي نظير خودرو سازي ، ماشين سازي، هوا فضا و مخصوصا علم نوين نانو كاربرد وسيعي دارند . در اين مقاله سعي بر اين است كه درك صحيحي از عملكرد ، تاريخچه ، بخش هاي مختلف يك سي.ام.ام ، شرايط محيطي و كاليبراسيون يك دستگاه سي.ام.ام و اصول استفاده از آنها در مقياس نانو ارائه گردد .